
설명
주요 특징
- 8개의 테스트 채널
- 획득 보드와 호스트 소프트웨어로 구성
- 테스트 계획을 자동으로 실행합니다.
- 항온조 및 턴테이블 제어 가능
- 다양한 자이로 통신 프로토콜 지원

응용
- FOG 성능 테스트
제품소개
회사 FOGTS001 다중-채널 자이로 획득 시스템은 최대 8개의 광섬유 자이로스코프에 대한 동시 획득 및 테스트를 지원하는 통합 플랫폼입니다. 이는 FPGA-기반 획득 보드와 호스트-컴퓨터 소프트웨어라는 두 부분으로 구성됩니다. 이 보드는 서로 다른 프로토콜의 자이로를 인터페이스하기 위한 8개의 채널을 제공하며, 8개의 병렬 데이터 스트림을 호스트 PC로 전송된 네트워크 패킷으로 병합하여 채널별로 분석, 표시 및 처리합니다. 시스템 소프트웨어는 완전 자동 고온/저{7}}온도 및 정적/동적 테스트 시퀀스를 지원합니다. 계획을 구성한 후 원클릭 시작으로 온도 및 턴테이블 제어를 자동으로 처리하고 수동 개입 없이 데이터 수집, 분석 및 저장을 완전히 완료합니다.
독특한 기술
회사는 광섬유 권선 장비 및 코일부터 FOG, 광섬유/MEMS 관성 제품, IMU 회로, 소프트웨어 및 테스트 장비에 이르기까지 완전한 폐쇄형-루프 기능을 갖춘 첨단 기술 기업입니다. 엔드{3}}투-프로세스 제어로 품질이 향상되고 비용이 절감됩니다. 엄격한 프로세스를 통해 ISO9001에 따라 운영되므로 제품 신뢰성과 일관성이 보장됩니다.
매개변수
FOGTS001 다중-채널 FOG 테스트 시스템 하드웨어 블록 다이어그램

시스템 소개
다중-채널 FOG 테스트 시스템은 최대 8개 채널의 광섬유 자이로 획득 및 테스트를 동시에 실현할 수 있는 통합 소프트웨어 시스템 세트입니다. 전체 시스템은 수집 보드 하드웨어와 호스트 컴퓨터 제어 시스템 소프트웨어의 두 부분으로 나뉩니다. 획득 보드는 다양한 프로토콜의 자이로에 연결할 수 있는 8개의 채널을 제공합니다. 획득 보드는 8채널 병렬 자이로 데이터를 네트워크 데이터 패킷에 통합하여 호스트 컴퓨터로 보내는 FPGA로 구현됩니다. 호스트 컴퓨터 소프트웨어는 네트워크 패킷을 분석하고 각 채널의 자이로 데이터를 별도로 표시하고 처리합니다. 하드웨어 블록 다이어그램은 아래 그림 1에 나와 있습니다.

동시에 획득 시스템 소프트웨어는 고온 및 저온, 정적 및 동적 테스트를 포함한 전체 테스트 계획의 자동 프로세스를 실현할 수 있습니다. 테스트 계획을 구성한 후 클릭하여 시작하면 시스템이 자동으로 온도 제어 및 턴테이블 제어를 완료하고 테스트 조건에 도달한 후 데이터 수집, 분석 및 저장을 실현하며 전체 프로세스에 추가 수동 조작이 필요하지 않습니다.
준비
2.1 지원 패키지 압축 풀기
, 압축을 푼 후, 빨간색 상자에 있는 폴더를 엽니다.
, 먼저 가이드 문서: TeeChart8을 등록하려면 Win7 시스템의 64비트 버전에 따라 소프트웨어에 필요한 컨트롤을 설치합니다.
2.2 제어 네트워크의 IP를 구성하고 획득 섀시에 연결할 준비가 된 네트워크 포트를 다음 주소로 구성합니다(192.168.5.X 네트워크 세그먼트로 구성해야 하며 X는 3~255일 수 있음).

그림 2: 네트워크 구성
2.3 FogProtocol 폴더를 열고 아래 txt 형식의 파일을 엽니다. 이 파일에는 이 파일에 추가하거나 뺄 수 있는 선택적 광섬유 자이로 프로토콜이 나열되어 있습니다.

2.4 광섬유 자이로 프로토콜 구성. FogProtocol 폴더에서 광섬유 자이로 프로토콜을 추가하거나 뺄 수 있습니다. 사용자는 자신의 프로토콜을 우리에게 보낼 수 있으며 이에 따라 자이로 프로토콜 문서를 수정합니다.
호스트 컴퓨터 획득 소프트웨어
光纤陀螺采集系统V2.71(Fiber Optic Gyro Acquisition System V2.71) 파일을 -더블클릭하면 소프트웨어 인터페이스가 아래와 같습니다.

그림 3: 획득 시스템의 호스트 컴퓨터 인터페이스
3.1 연결 및 구성
클릭하여 획득 섀시에 연결합니다. 섀시에 연결한 후 채널 구성을 클릭하면 인터페이스가 팝업되어 각 채널의 자이로 프로토콜을 구성할 수 있습니다. 자이로에 연결된 채널을 확인하고 해당 프로토콜을 구성하십시오(참고: 자이로에 연결되지 않은 채널은 확인하면 안 됩니다. 그렇지 않으면 각 채널의 데이터가 동기화되지 않습니다). 구성 버튼을 클릭하면 호스트 컴퓨터가 채널을 구성하기 위해 획득 보드에 명령을 보내기 시작합니다.

그림 4: 채널 구성
3.2 획득 시작
시작 버튼을 클릭하고 프롬프트 상자에 따라 확인을 클릭합니다. 두 번 확인한 후 자이로 데이터 수집이 시작됩니다.

그림 5: 수집 중인 자이로 데이터
3.3 획득 데이터 분석
각 채널에서 획득 인터페이스를 클릭하면 채널 데이터 획득 곡선과 데이터 분석 결과를 전환할 수 있습니다. (자이로가 시스템에 처음 연결된 경우 데이터를 수집하는 데 모두 정상인지 확인하기 위해 전환하고, 다른 채널에서 데이터를 수집한 경우 이미 선택한 일부 채널이 데이터를 획득하지 못하는 경우 즉시 획득을 중지하고 자이로 하드웨어 문제인지 채널 구성 프로토콜 문제인지 확인하십시오.) 곡선 인터페이스를 클릭하고 Ctrl 키를 누른 상태에서 마우스 휠을 굴려 수직 좌표 값을 축소하거나 확대하면 획득 곡선이 시각적 영역에 적절하게 표시됩니다. 마우스 휠을 굴리는 동안 Shift 키를 누르면 수평 좌표 값이 축소되거나 확대되어 곡선 표시의 기간 데이터를 조정할 수 있습니다. 곡선 표시 영역 오른쪽의 값을 입력하면 현재 좌표 표시를 직접 전환할 수도 있습니다. 곡선의 오른쪽은 1초 원시 데이터, 10초 평활화 데이터 및 100초 평활화 데이터 표시로 전환할 수 있습니다. 곡선 아래 목록에는 1s 원시 데이터가 표시됩니다. 데이터 분석 패널에는 실시간 데이터 분석 결과가 표시됩니다.{10}
3.4 테스트 계획 구성
획득 시스템은 온도 상자와 턴테이블을 연결하여 온도 주기, 정적 및 동적 속도 시퀀스의 자동화된 테스트를 실현할 수 있습니다. 테스트 계획 페이지로 전환하려면 클릭하세요. 테스트 프로그램을 편집할 수 있습니다.

그림 6: 테스트 계획 페이지
필요에 따라 상자를 선택하여 온도 상자를 활성화하거나 턴테이블을 활성화할 수 있습니다.
온도 상자가 활성화되면 온도 포인트를 편집할 수 있습니다. 온도점은 항온시험과 가변온도 시험으로 분류됩니다. 일정한 온도 테스트의 경우 온도 포인트 순서를 구성할 수 있습니다. 구성 가능한 매개변수는 다음과 같습니다. 온도 상승 및 하강 속도를 결정하는 상승 및 하강률. 온도점 순서를 편집할 때 여러 온도점을 쉼표로 구분하고(영어 입력 방법의 경우 쉼표에 유의) 동시에 유지 시간 순서와 온도점 순서가 일치하여 각 온도점 아래에 유지 시간을 표시하며 단위는 분입니다. 가변 온도의 경우 가변 온도 하의 온도 지점과 각 해당 온도 지점에서 온도를 유지하는 시간을 설정할 수 있습니다.

그림 7: 웜 박스 테스트 계획 편집 페이지 활성화
턴테이블이 활성화되면 정적 및 동적 테스트를 구성할 수 있습니다. 턴테이블과 온도가 활성화되면 각 온도 지점의 정적 테스트와 동적 테스트를 편집할 수 있습니다. 정적 테스트를 사용하면 위치 순서와 위치 순서에 해당하는 테스트 시간(초)을 편집할 수 있습니다. 동적 테스트는 속도 순서와 각 속도 지점에 해당하는 테스트 시간(초)을 편집할 수 있습니다. 온도 포인트, 정적 테스트, 동적 테스트 각각은 사이클 시간을 설정할 수 있습니다. 설정 후 첫 번째 온도 포인트, 첫 번째 정적 위치 사이클 테스트를 따른 다음 사이클 시간을 설정할 수 있습니다. 속도 시퀀스 테스트를 수행한 다음 사이클 시간을 설정합니다. 전체 정적 동적 테스트가 완료된 후 다음 온도 지점을 순환하고 모든 사이클이 완료될 때까지 전체 테스트가 자동으로 종료됩니다.

그림 8: 턴테이블 테스트 계획 편집 페이지 활성화
온도 상자나 턴테이블 없이 시작-시간 순서 테스트를 계속할 수 있습니다. 즉, 일정 기간 동안 테스트한 다음 일정 기간 동안 중지하고 반복합니다. 이 모드에서는 한 번만 설정할 수도 있습니다. 즉, 일정 시간 동안 테스트한 후 자동으로 중지됩니다.

그림 9: 온도 상자 없음, 회전 테이블 테스트 계획 편집 페이지 없음
테스트 계획을 편집한 후 각 섹션에 해당하는 추가 버튼을 클릭하면 설정된 테스트 계획이 추가됩니다. 테스트 계획 편집을 마친 후 계획 내보내기를 클릭하면 편집된 테스트 계획을 문서로 내보낼 수 있습니다. 마찬가지로 이전에 내보낸 테스트 계획 파일을 가져와 원래 계획을 기반으로 편집할 수 있습니다.

그림 10: 테스트 계획 추가, 내보내기 및 가져오기 버튼
3.5 테스트 계획을 편집하고 테스트 계획 파일을 저장한 후 획득을 시작하기 전에 Load Procedure(절차 로드) 확인란을 클릭하면 파일 선택 대화 상자가 나타나며, 이전에 저장한 테스트 계획을 선택하고 Open(열기)을 클릭한 다음 시작(즉, 로드된 테스트 계획을 사용한 자동화된 시퀀스 테스트)을 클릭합니다.

그림 11: 테스트 계획 파일 로드
부록 I: 광섬유 자이로 획득 시스템이 지원하는 자이로 프로토콜
|
아니요. |
데이터 형식 |
데이터 길이 |
총 데이터 길이(프레임 헤더 제외) |
메모 |
대표모델 |
|
1 |
헤더 |
/ |
4 |
|
F70M-M-X |
|
데이터 |
4 |
||||
|
온도 |
0 |
||||
|
체크섬 |
0 |
||||
|
2 |
헤더 |
0x80 |
5 |
데이터 상위 비트는 0이며 상위 바이트가 먼저, 하위 바이트가 두 번째입니다. |
F60 |
|
데이터 |
4 |
||||
|
체크섬 |
1 |
||||
|
3 |
헤더 |
0x80 |
6 |
데이터 상위 비트는 0이며 상위 바이트가 먼저, 하위 바이트가 두 번째입니다. |
F70-203 |
|
데이터 |
4 |
||||
|
온도 |
1 |
||||
|
체크섬 |
1 |
||||
|
4 |
헤더 |
0x80이 아닌 |
6 |
|
|
|
온도 |
1 |
||||
|
데이터 |
4 |
||||
|
체크섬 |
1 |
||||
|
5 |
헤더 |
0x80 |
7 |
데이터 상위 비트는 0이며 상위 바이트가 먼저, 하위 바이트가 두 번째입니다. |
|
|
X-데이터 |
3 |
||||
|
Y 데이터 |
3 |
||||
|
온도 또는 체크섬 |
1 |
||||
|
6 |
헤더 |
0x80이 아닌 |
7 |
높은 바이트 먼저, 낮은 바이트 두 번째 |
F098BC |
|
온도 |
1 |
||||
|
데이터 |
4 |
||||
|
상태 비트 |
1 |
||||
|
체크섬 |
1 |
||||
|
7 |
헤더 |
0x80 |
8 |
데이터 상위 비트는 0이며 상위 바이트가 먼저, 하위 바이트가 두 번째입니다. |
|
|
X 데이터 |
3 |
||||
|
Y 데이터 |
3 |
||||
|
온도 |
1 |
||||
|
체크섬 |
1 |
||||
|
8 |
헤더 |
0x80 |
9 |
데이터 상위 비트는 0이며 하위 바이트가 먼저, 상위 바이트가 두 번째입니다. |
F120H-M |
|
데이터 |
5 |
||||
|
체크섬 |
1 |
||||
|
온도 |
2 |
||||
|
체크섬 |
1 |
||||
|
9 |
헤더 |
0x80이 아닌 |
9 |
|
|
|
X 데이터 |
2 |
||||
|
Y 데이터 |
2 |
||||
|
Z 데이터 |
2 |
||||
|
온도 |
2 |
||||
|
체크섬 |
1 |
||||
|
10 |
헤더 |
0x80 |
10 |
데이터 상위 비트는 0이며 상위 바이트가 먼저, 하위 바이트가 두 번째입니다. |
|
|
X 데이터 |
4 |
||||
|
Y 데이터 |
4 |
||||
|
온도 |
1 |
||||
|
체크섬 |
1 |
||||
|
11 |
헤더 |
0x80이 아닌 |
14 |
데이터 상위 비트는 0이며 상위 바이트가 먼저, 하위 바이트가 두 번째입니다. |
|
|
X 데이터 |
2 |
||||
|
Y 데이터 |
2 |
||||
|
Z 데이터 |
2 |
||||
|
X 가속 |
2 |
||||
|
Y 가속도 |
2 |
||||
|
Z 가속 |
2 |
||||
|
온도 |
1 |
||||
|
체크섬 |
1 |
||||
|
12 |
헤더 |
0x80 |
15 |
데이터 상위 비트는 0이며 상위 바이트가 먼저, 하위 바이트가 두 번째입니다. |
|
|
X 데이터 |
4 |
||||
|
Y 데이터 |
4 |
||||
|
Z 데이터 |
4 |
||||
|
온도 |
1 |
||||
|
구경 측정 |
2 |
||||
|
13 |
헤더 |
0x55AA |
21 |
데이터 및 온도 낮은 바이트 먼저, 높은 바이트 두 번째 |
CH3 |
|
데이터 길이 |
1 |
||||
|
의사소통의 정의 |
1 |
||||
|
X 데이터 |
4 |
||||
|
Y 데이터 |
4 |
||||
|
Z 데이터 |
4 |
||||
|
X 온도 |
2 |
||||
|
Y 온도 |
2 |
||||
|
Z 온도 |
2 |
||||
|
프레임 순서 |
1 |
||||
|
상태 |
1 |
||||
|
체크섬 |
1 |
||||
|
14 |
헤더 |
0x80 |
17 |
낮은 바이트 먼저, 높은 바이트 두 번째 |
XB185D, XB335 |
|
X-데이터 |
4 |
||||
|
Y 데이터 |
4 |
||||
|
Z-데이터 |
4 |
||||
|
온도 |
2 |
||||
|
상태 |
1 |
||||
|
계산 |
1 |
||||
|
구경 측정 |
1 |
부록 II:DB15 출력 연결 정의
|
DB15 출력 연결 정의 |
||
|
아니요. |
정의 |
비고 |
|
1 |
NC |
|
|
2 |
NC |
|
|
3 |
NC |
|
|
4 |
NC |
|
|
5 |
T+ |
RS422 전송+(자이로 수신 +) |
|
6 |
T- |
RS422 전송- (자이로 수신 -) |
|
7 |
R+ |
RS422 수신+(자이로 송신 +) |
|
8 |
R- |
RS422 수신 - (자이로 전송 +) |
|
9 |
Trig_IN |
트리거 신호 |
|
10 |
접지 |
접지 |
|
11 |
+5V |
|
|
12 |
접지 |
|
|
13 |
-5V |
|
|
14 |
24+ |
|
|
15 |
24-(GND) |
|
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